" XRD(X射线衍射)通常用于研究晶体材料的内部结构,可以通过对样品进行衍射来确定其晶体结构。对于曲面样品,XRD的测量可能会受到一些限制,因为曲面样品可能会产生不规则的衍射图案,使得数据分析变得更加复杂。 但是,可以使用特定的实验技术来在曲面上测量XRD。例如,可以使用旋转平面X射线衍射(RPXRD)技术,该技术通过在样品旋转的同时进行X射线衍射来获得样品的衍射图案。这种技术可以应用于测量曲面样品的XRD。 还可以使用其他技术,如扫描X射线衍射(SXRD)或非弹性X射线散射(IXS),来研究曲面样品的内部结构。这些技术可以提供样品的二维或三维结构信息,并且可以应用于各种材料和样品形状。 因此,虽然XRD在曲面上的测量可能存在一些挑战,但可以使用特定的实验技术来克服这些限制,并获得有关样品内部结构的信息。"